نویسندگان | حسین کریمیان علیداش,علی اصغر سعادت زاده |
---|---|
همایش | دومین کنفرانس ملی اویونیک |
تاریخ برگزاری همایش | ۲۰۱۵-۲-۳ |
محل برگزاری همایش | اصفهان |
نوع ارائه | سخنرانی |
سطح همایش | ملی |
چکیده مقاله
چکیده - با پیشرفت تکنولوژی ساخت مدارهای مجتمع و گذر به ابعاد نانومتر اهمیت قابلیت اطمینان مدارها، خصوصاً حساسیت آنها در برابر برخورد ذرات اتمی و خطای نرم به صورت چشمگیری افزایش یافته است. این مقاله به مطالعه ذرات پر انرژی و منابع تولید کننده آنها پرداخته و میزان فراوانی آنها را بررسی می کند. در ادامه پدیده برخورد ذرات به سیلیکون مورد مطالعه قرار گرفته و اثرر نهرایی کره بره صورت خطای نرم در مدارهای دیجیتال می باشد را مورد تحلیل قرار می دهد. احتمال رخداد خطای نرم در مدارهای دیجیتال قابلیرت اطمینان آنها را کاهش می دهد. این خطا در سامانه های هوافضا دارای اهمیت زیادی است و می تواند باعث از کار افتادن یا اخرتلل در عملکرد تجهیزات کنترلی یا ناوبری شود. نظر به فزونی استفاده از مدارهای دیجیتال قابل برنامه ریزی، اثر خطای نرم بر روی آنها و روشهای طراحی که در برابر برخورد ذرات پر انرژی مقاوم هستند، بررسی و روشی جهت سنجش میزان مقاومت و آزمون پیشنهاد شده است.