"On-chip process variation-tracking through an all-digital monitoring architecture"

نویسندگانH. K. Alidash, A. Calimera, A. Macii, E. Macii and M. Poncino
نشریهIET Circuits, Devices & Systems
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2012
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپبریتانیا

چکیده مقاله