| Authors | حسین قیصر پورسی سخت,مهرداد مرادی کاونانی |
|---|
| Conference Title | کنفرانس فیزیک ایران ۱۴۰۰ |
|---|
| Holding Date of Conference | 2021-08-23 - 2021-08-26 |
|---|
| Event Place | 1 - اصفهان |
|---|
| Presented by | دانشگاه صنعتی اصفهان |
|---|
| Presentation | SPEECH |
|---|
| Conference Level | National Conferences |
|---|
Abstract
مواد نیمرسانای لایه نازک به دلیل خواص اپتیکی خود، در صنایع مختلفی مورد استفاده قرار میگیرند. یکی از این مواد رویسولفید است که مطالعه و بررسی رفتار این ماده مورد توجه محققان قرار دارد. یکی از روش های لایهنشانی، لایه نشانی در حالت مایل (خراشان) است. در این مقاله به بررسی طیف عبور لایه نازک روی سولفید و همچنین بررسی ساختار لایه نازک شکل گرفته در حالت مایل میپردازیم. همانطور که با استفاده از شبیهسازی پیشبینی شده بود به ازای افزایش ضخامت تعداد نقاط بیشینه و کمینه طیف عبور لایه نازک افزایش پیدا میکند. همچنین به ازای افزایش ضخامت میزان عبور نور کاهش پیدا میکند. در نمونهای که در حالت مایل لایهنشانی شد ریزساختارهای ستونی با هندسه خود متشابه تشکیل شد و همچنین شاهد کج شدگی ستونها در این نمونه بودیم. با استفاده از روش سوان پول می توان ضریب شکست اپتیکی این ساختارها را محاسبه کرد.
Paper URL
