| Authors | فاطمه نوه حاج حسینی,مهرداد مرادی کاونانی |
|---|---|
| Conference Title | ششمین همایش ملی و کارگاه های تخصصی علوم و فناوری نانو |
| Holding Date of Conference | ۲۰۲۴-۰۲-۲۱ - ۲۰۲۴-۰۲-۲۲ |
| Event Place | 1 - بوشهر |
| Presented by | دانشگاه خلیج فارس |
| Presentation | SPEECH |
| Conference Level | National Conferences |
Abstract
در این مقاله، اثر لایه نشانی دو لایه طلا و کروم به روش PVD را بر روی آلیاژ آمورف کبالت پایه CoFeSiB با ضخامت های متفاوت بررسی و گزارش شده است. نوارهای مغناطیسی را در دستگاه لایه نشانی حرارتی و در فشار قرار دادیم و لایهنشانی با ضخامت50 نانومتر از مجموع طلا و کرم و نمونه دوم با ضخامت 25 نانومتر از مجموع هر دو ماده بر روی نوار آمورف کبالت پایه لایه نشانی شد. آنالیز طیف پراش پرتو ایکس آمورف بودن هر دو نمونه را تایید کرد. نتایج بدست آمده نشان دادند که در هر دو ضخامت لایهنشانی شده افزایش اثر امپدانس مغناطیسی قابل مشاهده است. در نوار آمورف کبالت پایه با ضخامت مجموع 50 نانومتر ، 202% بیشترین افزایش درصد امپدانس مغناطیسی را داشتیم و در نوار آمورف کبالت پایه با ضخامت مجموع 25 نانومتر، 152% اثر امپدانس مغناطیسی افزایش پیدا کرد. لایهنشانی در ضخامت های کمتر از 25 نانومتر افزایش اثر امپدانس را نشان ندادند.
tags: لایه نازک، امپدانس مغناطیسی، PVD، آلیاژ آمورف، لایه نشانی