| Authors | مجید ارتگلی,سیدمحمدباقر قریشی |
|---|---|
| Conference Title | کنفرانس فیزیک ایران 94 |
| Holding Date of Conference | ۲۰۱۵-۸-۲۴ |
| Event Place | مشهد مقدس |
| Presentation | SPEECH |
| Conference Level | National Conferences |
Abstract
در این پژوهش لایه نازک PVA پس از لایه نشانی به روش چرخشی ثابت اپتیکی اندازه گیری و محاسبه شده است.