| نویسندگان | بهنام اسماعیل زاده چقوش,مهرداد مرادی کاونانی,سامان محمودی |
|---|
| همایش | کنفرانس سالانه فیزیک ایران |
|---|
| تاریخ برگزاری همایش | ۲۰۱۷-۸-۲۸ |
|---|
| محل برگزاری همایش | یزد |
|---|
| نوع ارائه | سخنرانی |
|---|
| سطح همایش | ملی |
|---|
چکیده مقاله
در این مقاله، خواص مغناطیسی ساختار شیشه/کبالت/روی‌سولفید با استفاده از اثر مگنتواپتیکی کر بررسی شده است. ابتدا روی سولفید به روش رسوبگذاری شیمیایی تهیه و با استفاده از الگوی پراش پرتو ایکس ساختار آن تایید شد. در ساختار شیشه/ کبالت/روی سولفید، از کبالت بهعنوان ماده‌ی مغناطیسی و از روی سولفید بهعنوان لایه پوششی استفاده شدهاست. برای بدست آمدن لایه‌های با ضخامت متغییر تکنیک لایه‌نشانی مورب مورد استفاده قرار گرفت که ضخامتهای مختلف در حدود 5 تا 90 نانومتر برای کبالت و 40 تا 70 نانومتر برای روی سولفید بر روی بستر شیشهای لایه‌نشانی شود. حلقه پسماند لایه‌ها در ضخامتهای مختلف با استفاده از اثر مگنتواپتیکی کر در هندسه طولی اندازهگیری و مشاهده شد که نمونه دارای یک محور آسان در صفحه فیلم و در راستای قطر بزرگ نمونه است. نتایج نشان دادند که لایه پوششی با ضخامت مناسب با ایجاد یک کاواک نوری توانسته است سیگنال کر را 4/6 برابر تقویت کند که با توجه به ساده بودن تکنیک قابل توجه است.