بهینه سازی اثر GMI با لایه ‎نشانی دو لایه AuCr بر روی آلیاژ آمورف کبالت پایه و بررسی اثر ضخامت لایه

چکیده مقاله

در این مقاله، اثر لایه‎ نشانی دو لایه طلا و کروم به روش PVD را بر روی آلیاژ آمورف کبالت پایه CoFeSiB با ضخامت ‎های متفاوت بررسی و گزارش شده است. نوارهای مغناطیسی را در دستگاه لایه ‎نشانی حرارتی و در فشار قرار دادیم و لایه‎نشانی با ضخامت50 نانومتر از مجموع طلا و کرم و نمونه دوم با ضخامت 25 نانومتر از مجموع هر دو ماده بر روی نوار آمورف کبالت پایه لایه ‎نشانی شد. آنالیز طیف پراش پرتو ایکس آمورف بودن هر دو نمونه را تایید کرد. نتایج بدست آمده نشان دادند که در هر دو ضخامت لایه‎نشانی شده افزایش اثر امپدانس مغناطیسی قابل مشاهده است. در نوار آمورف کبالت پایه با ضخامت مجموع 50 نانومتر ، 202% بیشترین افزایش درصد امپدانس مغناطیسی را داشتیم و در نوار آمورف کبالت پایه با ضخامت مجموع 25 نانومتر، 152% اثر امپدانس مغناطیسی افزایش پیدا کرد. لایه‎نشانی در ضخامت های کمتر از 25 نانومتر افزایش اثر امپدانس را نشان ندادند.