نویسندگان | سعید حاجی جعفری بیدگلی,عباس صادق زاده عطار |
---|---|
همایش | چهارمین همایش بین المللی و نهمین همایش مشترک انجمن مهندسین متالورژی و انجمن علمی ریخته گری ایران |
تاریخ برگزاری همایش | ۲۰۱۵-۱۱-۱۰ |
محل برگزاری همایش | تهران |
نوع ارائه | سخنرانی |
سطح همایش | بین المللی |
چکیده مقاله
در این پژوهش، لایه¬های نانوساختار سیلیکات بیسموت (Bi4Si3O12) به روش سل- ژل تهیه و سپس تاثیر افزودن ماده استرانسیم بر ساختار، مورفولوژی و خواص نوری آنها مورد بررسی قرار گرفت. در این راستا ابتدا سل های مختلف با نسبت¬های بهینه از مواد اولیه تهیه شد و سپس سل¬های تهیه شده به روش غوطه وری بر روی زیرلایه با سرعت یک میلیمتر بر ثانیه لایه¬نشانی شد. در ادامه نمونه¬های تولید شده در دمای °C100 خشک و به منظور دستیابی به ساختار کریستالی در دمای °C 700 به مدت یک ساعت کلسینه شد. در نهایت نمونه¬های تهیه شده با استفاده از دستگاه¬های FT-IR، XRD، SEM و UV-Vis مورد آنالیز و ارزیابی قرار گرفتند. نتایج حاکی از تشکیل پوششی یکنواخت و همگن از ساختار سیلیکات بیسموت با اندازه ذرات 40 تا 150 نانومتر می¬باشد. همچنین بررسی¬ خواص نوری این لایه¬ها نشان داد که این لایه¬ها در ناحیه فرابفنش و نور مرئی شفاف هستند.