ساخت نانو سیمهای CoZn انباشت شده در آلومینای نانومتخلخل و مشخصه یابی آن با استفاده از روش پس پراکندگی رادرفورد

Abstract

چکیده در این تحقیق نانوسیمهای آلیاژ CoZn در قالب اکسید آلومینیوم متخلخل توسط پالس جریان متناوب (ac) انباشت شدند. قالب اکسید آلومینیوم از طریق آنودایز نرم دو مرحله‌ای ورقه آلومینیوم خالص ساخته شد و مورفولوژی آن با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص گردید. به‌ منظور مطالعه سیستماتیک نمونه ساخته‌شده، از روش‌های غیرمخرب آنالیز با باریکه یونی استفاده شد. از بین این روش ها آنالیز طیف پس‌پراکندگی رادرفود با برخورد یون‌های پروتون با انرژی keV 2000 و keV 2500 و یون‌های هلیوم با انرژی keV 2500 با ماده انجام شد. تحلیل و بررسی طیف RBS نمونه به همراه شبیه ‌سازی‌های انجام شده با کد SIMNRA، امکان تعیین غلظت، نمایه عمقی عناصر موجود در نمونه و تعیین استوکیومتری قالب آلومینا در عمق‌های متفاوت را فراهم کرد. بهترین نتایج بدست آمده مربوط به آنالیز با پروتون keV 2500 میباشد که عمق نانوسیمهای آلیاژ CoZn را برابر 10 الی 14 میکرومتر به‌دست آورد. همچنین برای صحت ‌سنجی نتایج، از نمونه تصاویر FE-SEM تهیه شد که مؤید همخوانی با نتایج به‌دست آمده از روش RBS می‌باشد.