نویسندگان | احمد رمضانی مقدم-محمد نظیفی فرد |
---|---|
نشریه | Iranian Journal of Radiation Safety and Measurement |
تاریخ انتشار | ۲۰۱۳-۹-۰۱ |
رتبه نشریه | علمی - پژوهشی |
نمایه نشریه | ISC |
چکیده مقاله
پرتوهای یون ساز می توانند آثار دائمی یا موقت بر عملکرد مدارهای الکترونیکی داشته باشند. آثار موقت که در حین تابش دهی ظاهر شوند ، می توان به عنوان نشانه ای از وجود پرتو یون ساز در محیط دانست که برای آشکارسازی پرتو یون ساز مفید هستند. در این مطالعه، اثر فوتون های گاما بر جریان معکوس دیود در حالت بایاس معکوس و مقایسۀ آن با همان جریان در حالت بدون تابش مورد بررسی قرار گرفت تا به صورت N از این طریق، امکان به کارگیری پیوند دیودی برای مصارف آشکارسازی بررسی شود. در مدار دیودی از یک دیود 4001 سری با یک مقاومت بزرگ استفاده شده است. برای تأمین پتانسیل خارجی مدار دیودی از یک منبع تغذیه ولتاژ مستقیم گردید. برای اندازه گیری جریان اشباع معکوس و تغییرات جریان ناشی از تابش پرتو گاما، ولتاژ در دو سر مقاومت اندازه گیری شد . نتایج نشان می دهند که یک مدار سادة دیودی تحت تأثیر تابش گاما دارای اختلاف معناداری در جریان اشباع معکوس خود ، نسبت به حالت بدون تابش است؛ بنابراین، می توان تغییرات مشاهده شده در جریان اشباع معکوس را در گام سادة اول، به عنوان علامت وجود پرتو گاما در محیط در نظر گرفت.