| نویسندگان | مجید ارتگلی,سیدمحمدباقر قریشی |
|---|---|
| همایش | کنفرانس فیزیک ایران 94 |
| تاریخ برگزاری همایش | ۲۰۱۵-۸-۲۴ |
| محل برگزاری همایش | مشهد مقدس |
| نوع ارائه | سخنرانی |
| سطح همایش | ملی |
چکیده مقاله
در این پژوهش لایه نازک PVA پس از لایه نشانی به روش چرخشی ثابت اپتیکی اندازه گیری و محاسبه شده است.